製 品

常高温マルチハンドラ

(S9 最大8ch S9+HS 最大32ch)

S9, S9+HS New!

対応デバイス: BGA, CSP, BCC, MLF, QFN, QFP 

対応デバイスサイズ: 3.0mm - 50mm (ソケットに依る)

インデックスタイム: 0.35sec以下.

スループット: 最大8,500 (コンディションに依る)

コンタクトピッチマトリックス: 4x2 Pitch :40x60mm

コンタクトモード: 1 - 8 サイト

ジャム率: 1/20,000

オプション: キットレス, ATC

S9+HS New! 

16ch - 32ch ハイスピードモデル 

詳細お問合せ下さい。

S9+HSは最大32chの測定が可能。

最大UPH:16500 (コンディションに依る)

S9シリーズには多数のカスタムモデルがございます。

詳細お問合せ下さい。

低高温マルチハンドラ (最大8ch)

SX 2400

対応デバイス: BGA, CSP, BCC, MLF, QFN, QFP

対応デバイスサイズ: 3.0mm - 40mm (50mm 対応オプション有 コンディションに依る)

インデックスタイム: Less than 0.8sec

スループット: 5,000

コンタクトピッチマトリックス: 

全てのピッチサイズ対応可 (mm & インチピッチ)

コンタクトモード: 1 - 8 サイト 

温度範囲: -55C to +175C 

最大72時間結露無し連続運転可能

オプション:高コンタクトフォース 300kg/150kg

 

 

SX2400シリーズには多数のカスタムモデルがございます。

詳細お問合せ下さい。

New!!

実機テスト用 システムレベルテスタ

S1-SLT 

ローコスト、ハイパフォーマンス

実機測定用システムレベルテスタ S1-SLTはお客様の実機測定環境に併せてカスタマイズが可能です。

対応デバイス: BGA, CSP, BCC, MLF, QFN, QFP

対応デバイスサイズ: 40 x 40 to 70 x70 mm

          (小、大デバイス対応オプション有。)

 

コンタクトモード: 1 サイト サーマルヘッド

          (最大1台に4サイトまで増設可能)

ジャム率: 1/20,000

オプション: OCRカメラ、デバイス二重置き防止

レーザーセンサー、エリアセンサ‐、ロードセル多チャンネル化等 お客様向けにカスタマイズが可能

高コンタクトフォース 120kg/ 150kg (オプション)/ サイト

 

 

 

 

お客様

測定環境に併せた装置をご提案

 

ローコスト、小デバイス対応ハンドラ

S1

ローコスト、ハイパフォーマンス

エンジニアリング用として、またはプロダクション用としても本装置はお客様の用途に併せてカスタマイズが可能です。

 

対応デバイス: BGA, CSP, BCC, MLF, QFN, QFP

対応デバイスサイズ: 1mm - 60mm

コンタクトモード: 1 - 16 サイト 

温度範囲: -55 to 175C (冷凍機ユニット使用時)

コンタクトフォース: 85kgf (標準) 225kgf (オプション)

 

テープ&リールモデル、アクティブサーマルコントロールモデルもございます。

その他詳細お問合せ下さい。

 

 

カスタム製品

ソケットピン自動挿入機

SP1

S-SLTカスタムモデル、

CMOS センサモジュール ハンドラ 

ATC モジュール等

SYNAX

サーマルソリューション 

STC-1

CMOSモジュール

イメージテスティングハンドラ

 

SX 7200

カスタム装置モデルはお客様のニーズにお答えします。

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